1、storage模块会定期获取SAS盘的SMART信息，其中包括PList信息；
2、东芝2.4T SAS盘在处理PList请求的时候，会先将IO缓存写入后再返回；
3、当进行性能IO测试的时候，storage模块的定期获取SMART信息会导致东芝SAS盘出现性能跌0.
4、考虑到PList（主缺陷列表）是出厂后不变更（参考文档：https://www.t10.org/ftp/t10/document.05/05-344r0.pdf ），是否可以考虑获取SMART信息的时候不去获取PList
目前考虑到收集硬盘日志对IO性能的影响，已经规划了需求：
1.提供接口，可以停止/开启硬盘日志的周期收集；
2.提供接口，手动收集硬盘日志
感谢反馈的建议：
我们会继续分析日志收集的合理，降低对IO性能的影响; 如果上诉规划需求不能解决问题，欢迎继续跟帖讨论
我理解硬盘日志收集和SMART信息收集都有发送read_defect_data(0xb7)，
但只有SMART信息收集才发送了获取PList（第一个字节：0xb7(read_defect_data) 第二个字节： 0x15(获取PList)），
硬盘日志收集应该是只发送了获取GList。
考虑到东芝性能跌0是获取PList触发的，我理解需要从限制PList，也就是SMART信息收集。
所以，想的是，考虑到PList（主缺陷列表）是出厂后不变更，是否可以考虑获取SMART信息的时候不去获取PList。
建议在hardware sig例会上申报议题，讨论一下这种场景的合理性，如果必要的话，可以规划需求到storage来支持这种场景。
已申报议题：Etherpad
问一下，到时候这个会议链接怎么上哇？可以呼叫上其他没有welink的账号不呢？
hardware sig组会定期举办例会，可以通过订阅hardware-sig的邮件获取到会议通知。
会议链接是公开的
@changxingOpenUBMC 关注一下