2509版本NVME盘偶现不显示通电时间和剩余利用率
手动拔插后又可以显示
答案内容由AI生成，仅供参考：
总结
| 项目 | 说明 |
|---|---|
| 问题本质 | NVMe盘SMART信息因初始化时通信或识别异常未被完整采集，导致前端缺失关键参数。 |
| 根本原因 | BMA首次采集无SN → 无法匹配设备 → 丢弃其他信息；MCTP/SMBus通信不稳定。 |
| 临时方案 | 手动拔插可触发重新枚举，恢复数据。 |
| 长期建议 | 修复BMA信息合并逻辑，增强MCTP通信健壮性，添加自动刷新机制。 |
| 版本关注 | 此问题存在于2509版本，建议关注后续版本修复进展。 |
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NVMe盘偶现缺失累计通电时间与剩余利用率问题分析
根据提供的信息，系统中出现NVMe盘偶现缺失“累计通电时间”和“剩余利用率” 的问题，并在手动拔插后恢复正常。以下基于知识库内容对该问题进行综合分析与说明。
问题概述
- 设备型号：SAMSUNG MZWL63T8HFLT-00B07（Samsung NVMe SSD）
- 故障现象：
- 在
openUBMC的存储管理界面中，NVMe 盘信息偶发性地不显示“累计通电时间”和“剩余磨损率”（即“剩余利用率”）。 - 页面提示：“缺少参数：累计通电时间、剩余利用率”。
- 在
- 临时恢复方式：
- 手动对NVMe盘执行拔插操作后，相关参数可正常显示。
- 系统环境：
- 使用
BMA 2.0进行带外设备管理。 - 系统版本为
2509。
- 使用
根本原因分析
1. SMART信息获取失败或延迟
关键依据：
- 知识图谱中的实体
SMART Information描述指出：“SMART Information refers to the self-monitoring, analysis, and reporting technology data for storage devices, which is not being retrieved for the NVME disk in this case.”
这表明：
- 系统未能成功获取该NVMe盘的SMART信息，导致“累计通电时间”（
PowerOnHours）和“剩余磨损率”（基于PercentageDriveLifeUsed）等关键健康属性无法显示。 - 日志中多次记录设备状态变更（如温度、通电小时），但部分时刻缺少
PowerOnHours字段更新，说明存在数据采集不完整或丢失的问题。
2. 
BMC信息同步机制存在缺陷
已知问题（来自文档内容）：
“有已知问题，NVME盘通过BMA更新信息时，第一次更新的信息中无SN时，则无法匹配，导致会丢失第一次中其他的信息。”
这意味着：
- 在设备初始化或上电过程中，如果序列号（SerialNumber）未及时上报，BMC/BMA将无法正确关联该NVMe设备，从而导致其采集到的部分信息（如
PowerOnHours、PercentageUsed）被丢弃。 - 此后即使设备稳定运行，这些关键字段可能始终未被补全，造成前端界面长期缺失数据。
3. 
NVMe信息依赖MCTP over SMBus通信
关键依据：
- 实体
NVME Disk描述：“The NVME Disk is a storage device that is unable to provide SMART information, potentially due to a communication failure in the MCTP over SMBus protocol.”
说明：
- openUBMC通过 MCTP over SMBus 协议从NVMe盘读取SMART数据。
- 若系统启动初期SMBus通信异常、链路未建立成功或存在噪声干扰，可能导致首次通信失败，之后未主动重试或刷新，从而出现信息缺失。
- 拔插操作会触发重新枚举和MCTP连接重建，恢复正常通信。
4. 
初始化时机问题 & BMA加载延迟
结合图片中的蓝色提示：
“此页面的RAID控制器、逻辑驱动器、物理驱动器的信息依赖RAID卡的带外管理功能，并且在系统引导完成后或安装并完全启动BMA 2.0才能显示。”
分析：
- 若 BMA 2.0 加载晚于NVMe设备探测，则初始信息采集不完整。
- 导致设备信息在 BMC 库中仅为 部分填充状态，未触发后续完整属性拉取流程。
解决方案建议
| 问题点 | 应对措施 |
|---|---|
| 首次SN未上报导致信息丢失 | 优化BMA设备匹配逻辑，允许后续SN到达后补全历史数据，避免因初始缺失而永久丢弃。 |
| MCTP/SMBus通信失败 | 增加MCTP链路健康检测与重试机制；提升SMBus通信容错能力。 |
| BMA加载延迟导致采集不全 | 强制等待BMA完全启动后再发起NVMe信息采集；增加周期性刷新机制。 |
| 依赖人工拔插恢复 | 实现远程软复位或逻辑重枚举接口，避免物理干预。 |
此外，参考社区已提交的问题单：
建议跟踪并应用相关修复补丁。
状态与健康信息说明（以正常情况为准）
当设备信息完整时，对应字段含义如下：
| 参数 | 说明 |
|---|---|
| 累计通电时间 | 即 PowerOnHours，单位为小时（h），记录设备累计加电运行时间。 |
| 剩余磨损率 | 即 PercentageUsed 的反向指标（100% - PercentageUsed），反映SSD寿命消耗程度。值越高越好。 |
| 型号 | SAMSUNG MZWL63T8HFLT-00B07，三星企业级NVMe SSD。 |
| 容量 | 3.493 TB（约3.84TB格式化后可用空间）。 |
| 接口速率 | 支持PCIe Gen4 x4，协商速率达128 Gbps（即约12.8 GB/s）。 |
| 健康状态 | “正常”表示无 CriticalWarning 报警，Status 值为0。 |
总结
| 项目 | 说明 |
|---|---|
| 问题本质 | NVMe盘SMART信息因初始化时通信或识别异常未被完整采集，导致前端缺失关键参数。 |
| 根本原因 | BMA首次采集无SN → 无法匹配设备 → 丢弃其他信息；MCTP/SMBus通信不稳定。 |
| 临时方案 | 手动拔插可触发重新枚举，恢复数据。 |
| 长期建议 | 修复BMA信息合并逻辑，增强MCTP通信健壮性，添加自动刷新机制。 |
| 版本关注 | 此问题存在于2509版本，建议关注后续版本修复进展。 |
环境上是否有ibma
建议用最新版本验证下 ，可能是已经解决的历史问题
有ibma，storage版本是1.80.118
已经包含了这个pr
查看一下该nvme盘的Scanner_Remtime.Value 看下是否符合预期
"Nvme_1": {
"Slot": "${Slot}",
"TemperatureCelsius": "<=/Scanner_Temp.Value",
"MediaType": 1,
"Protocol": 6,
"PredictedMediaLifeLeftPercent": "<=/Scanner_Remtime.Value",
"RefComponent": "#/Component_PCIeCard1",
"Failure": "<=/Scanner_SSD_Fault.Value",
"PredictiveFailure": "<=/Scanner_SSD_Pre_Fault.Value",
"VPDChip": "#/Chip_Virtual_SSD",
"SSDChip": "#/Chip_SSD"
},